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JPH0629322A Expired / Lapsed JP ⏱️ 0.0 years remaining

Formation of gate electrode of field-effect transistor

Assignee: Mitsubishi Electric Corp
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Filing: 1992-07-13
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Granted: —
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Expires: 2012-07-13
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Abstract

Abstract Translated from Japanese (57)【要約】 【目的】 T形断面形状を有するゲート電極を容易に、 かつ信頼性高く形成する方法を提供する。 【構成】 基板1上にEBレジスト5を被覆して、リセ ス形成用パターンを開口し、このパターンをマスクとし てリセス7を形成し、第1のゲート金属8を被着した 後、イオンビーム10を斜め方向から照射して、前記パ ターンの開口周縁のすきまに第1のゲート金属8を埋め 込んで下部電極11を形成し、次いで、第2のゲート金 属を被着した後、前記下部電極11をオーバラップする ように第2のレジストをパターン形成し、その後、第2 のゲート金属をエッチングして上部電極を形成して、T 形ゲート電極を形成することを特徴としている。 (57) [Abstract] [Purpose] A gate electrode having a T-shaped cross-section can be easily formed. And a method of forming with high reliability. [Structure] An EB resist 5 is coated on a substrate 1, a recess forming pattern is opened, a recess 7 is formed using this pattern as a mask, a first gate metal 8 is deposited, and then an ion beam 10 is applied. Irradiating from an oblique direction, the first gate metal 8 is embedded in the clearance at the periphery of the opening of the pattern to form the lower electrode 11, and then the second gate metal is deposited. Pattern a second resist to wrap and then a second Etching the gate metal to form an upper electrode, Forming a gate electrode.

Inventors

  • 👤 Koichi Sumiya
  • 👤 光一 住谷

Bibliographic Details

Application Number —
Jurisdiction JP
Data Source google_patents
Last Synchronized 2026-11-08 03:49
CPC Classifications
—

Claims Analysis

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