Analog-to-digital converter

Abstract

Abstract Translated from Japanese (57)【要約】 【課題】安定したアナログデジタル変換特性を得る。 【解決手段】画素部PBから読み出した２時点のサンプル 成分の差成分ＶＭに対して、基準電圧発生回路１４から 出力され、可変する基準電圧が加算される。その変化の 途中でインバータA１の閾値をオーバーするとインバー タＡ１の出力が変化し、カウンタ１６のカウント値をラ ッチ回路１５がラッチする。このラッチデータは、基準 電圧の波形のスロープの途中に相当し、ラッチ回路とし ては、差成分に見合うデジタル出力を得る。ここで基準 電圧波形を制御することによりアナログデジタル変換特 性を所望の特性にすることができる。 (57) [Summary] To obtain stable analog-to-digital conversion characteristics. A reference voltage generation circuit (14) adds a variable reference voltage to a difference component (VM) between two sample components read from a pixel unit (PB). If the threshold value of the inverter A1 is exceeded during the change, the output of the inverter A1 changes, and the count value of the counter 16 is latched by the latch circuit 15. This latch data corresponds to the middle of the slope of the waveform of the reference voltage, and the latch circuit obtains a digital output corresponding to the difference component. Here, by controlling the reference voltage waveform, the analog-to-digital conversion characteristic can be made a desired characteristic.

Inventors

• 👤 Tadashi Sugiki
• 👤 忠 杉木

Bibliographic Details