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EP0446449A2 Expired / Lapsed EP ⏱️ 0.0 years remaining

Dual-port memory suited for self-test and method for testing the same

Assignee: Siemens AG
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Filing: 1990-12-13
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Granted: —
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Expires: 2010-12-13
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Abstract

Abstract Translated from German Zur Durchführung eines Selbsttestes eines auf einem Chip mit anderen Einheiten angeordneten Dual-Port Speichers (CSP), der Betriebsdaten zum Betrieb der Einheiten enthält, ist der Speicher (SP) derart ausgeführt, daß der Selbsttest ohne Verlust der in dem Speicher gespeicherten Betriebsdaten durchgeführt werden kann und ohne daß diese Betriebsdaten aus dem Speicher ausgelesen werden müssen. Dazu ist der Dual-Port Speicher zwei Single-Port Speichermodulen (SPE1, SPE2) aufgebaut, die im Betrieb identischen Inhalt haben, jedoch im Testfall unterschiedlich auswählbar sind und getrennt voneinander geprüft werden können. In dem Speichermodul, die nicht getestet wird, befinden sich dann die Betriebsdaten, die nach der Prüfung des anderen Speichermoduls in diesen geschrieben werden. Der Speicher enthält weiterhin ein Signaturregister (S-RG) zur Bildung einer Signatur über die von den Speichermodulen abgegebenen Testantwortsignale und eine Vergleicherschaltung (VGL) mit der Sollsignatur. In order to carry out a self-test of a dual-port memory (CSP) which is arranged on a chip with other units and contains operating data for operating the units, the memory (SP) is designed in such a way that the self-test is carried out without loss of the operating data stored in the memory can and without having to read these operating data from the memory. For this purpose, the dual-port memory is constructed of two single-port memory modules (SPE1, SPE2), which have identical contents during operation, but can be selected differently in the test case and can be tested separately. The memory module, which is not tested, then contains the operating data which are written to the other memory module after it has been checked. The memory also contains a signature register (S-RG) for forming a signature via the test response signals emitted by the memory modules and a comparator circuit (VGL) with the target signature.

Inventors

  • 👤 Hartmut Dipl.-Phys. Ritter
  • 👤 Thomas Dipl.-Ing. Schwair

Bibliographic Details

Application Number —
Jurisdiction EP
Data Source google_patents
Last Synchronized 2026-11-08 17:33
CPC Classifications
G; G11; G11C; G11C29/00; G11C29/04; G11C29/08; G11C29/12; G11C29/38; G11C29/40; G11C29/18; G11C29/20

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