Integrated semiconducteur memory

Abstract

Abstract Translated from German Ein Halbleiterspeicher ist in mehrere gleiche Zellenfelder ZF aufgeteilt Zum Testen können die Zellenfelder ZF parallel beschrieben und ausgelesen werden. Dazu erfaßt eine in den Speicher integrierte Auswerteschaltung AS die ausgelesenen Daten. Erkennt die Auswerteschaltung AS einen Fehler, so versetzt sie den Datenausgang in einen hochohmigen Zustand. A semiconductor memory is divided into several identical cell fields ZF. For testing, the cell fields ZF can be written to and read out in parallel. For this purpose, an evaluation circuit AS integrated in the memory detects the read data. If the evaluation circuit AS detects an error, it puts the data output in a high-resistance state.

Inventors

• 👤 Hans Peter Dipl.-Phys. Fuchs

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