Integrated semiconductor memory

Abstract

Abstract Translated from German Ein Halbleiterspeicher ist in mehrere gleiche Zellenfelder aufgeteilt. Zum Testen können die Zellenfelder parallel beschrieben und ausgelesen werden. Dazu erfaßt eine in den Speicher integrierte Auswerteschaltung AS die ausgelesenen Daten. Sind die Daten fehlerfrei, so setzt sie am Datenausgang ein "Gut"-Signal, ansonsten ein Fehlersignal. A semiconductor memory is divided into several identical cell fields. For testing, the cell fields can be written and read out in parallel. For this purpose, an evaluation circuit AS integrated in the memory detects the read data. If the data is error-free, it sets a "good" signal at the data output, otherwise an error signal.

Inventors

• 👤 Kurt Dr. Prof. Hoffmann

Bibliographic Details