Process and device for measuring the thickness of thin metallic coatings deposited on a conductive support

Abstract

Abstract Translated from French Procédé de mesure de l'épaisseur des couches métalliques minces déposées sur un support conducteur, caractérisé en ce que ladite épaisseur est déterminée à partir de la mesure des pertes correspondant à l'effet Joule, dû aux courants de Foucault qui apparaissent lorsqu'on approche de la surface métallique un circuit magnétique excité par une tension alternative. Method for measuring the thickness of thin metallic layers deposited on a conductive support, characterized in that said thickness is determined from the measurement of the losses corresponding to the Joule effect, due to the eddy currents which appear when approaching from the metal surface a magnetic circuit excited by an alternating voltage.

Inventors

• 👤 Robert Wang
• 👤 Henri Clergeot
• 👤 François Monteil
• 👤 Dominique Placko

Bibliographic Details