Opto-electronic method and device for inspecting a surface pattern of an article

Abstract

Abstract Translated from German Bei einem Verfahren zum opto-elektronischen Prüfen eines Flächenmusters an einem Objekt, insbesondere einer Leiterplatte, wird eine Mikroprüfung vorgenommen, indem zeilenweise aufgenommene Bildelemente Bildpunkt für Bildpunkt einer Folge von Bildoperationen zu einer Abmessungs-/Abstandsprüfung unterzogen und das jeweilige Ergebnis mit dem entsprechenden aufgenommenen Bildpunkt verglichen wird. Gleichzeitig wird eine Makroprüfung vorgenommen, indem die aufgenommenen Bildpunkte in Bildfeldern zusammengfaßt und jeweils auf eine einzige charakteristische Bildinformation reduziert werden, worauf wieder ein Vergleich, in diesem Fall jedoch mit der entsprechenden Bildinformation eines Referenzbildes, erfolgt. So lassen sich in Echtzeit Flächenmuster; beispielsweise Leiterplatten, sowohl auf kleine, visuell kaum sichtbare Fehler als auch auf Makrofehler hin schnell und vollautomatisch überprüfen. In a method for opto-electronic testing of a surface pattern on an object, in particular a printed circuit board, a microcheck is carried out by subjecting image elements recorded line by line pixel by pixel to a sequence of image operations for a dimension / distance test and the respective result with the corresponding recorded image point is compared. At the same time, a macro check is carried out by combining the recorded pixels in image fields and reducing them to a single characteristic image information, whereupon a comparison is made again, but in this case with the corresponding image information of a reference image. In this way, surface patterns can be created in real time; For example, check circuit boards quickly and fully automatically for small, barely visible defects as well as for macro errors.

Inventors

• 👤 Ludwig Dr. Ing. Pietzsch
• 👤 Knud Dr. Ing. Overlach
• 👤 Detlef Dr. Ing. Senger
• 👤 Walter Dipl. Ing. Breunig

Bibliographic Details