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JPH0799271A Expired / Lapsed JP ⏱️ 0.0 years remaining

Semiconductor device

Assignee: Mitsubishi Electric Corp
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Filing: 1993-12-27
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Granted: —
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Expires: 2013-12-27
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Abstract

Abstract Translated from Japanese (57)【要約】 【目的】 樹脂モールドに対して応力耐性をより高く し、かつ、紫外線照射効率を高くすることを目的とす る。 【構成】 酸化膜2,アルミ配線3,アルミボンディン グパッド3a,シリコン窒化膜4,トランジスタ6など があらかじめ形成されている半導体基板1上に、末端に 水素原子をもち側鎖にメチル基をもつシリコーンラダー 系樹脂からなる樹脂膜5を形成する。 (57) [Summary] [Purpose] The objective is to further increase the stress resistance of the resin mold and the ultraviolet irradiation efficiency. [Structure] On a semiconductor substrate 1 on which an oxide film 2, an aluminum wiring 3, an aluminum bonding pad 3a, a silicon nitride film 4, a transistor 6 and the like are formed in advance, a silicone having a hydrogen atom at a terminal and a methyl group at a side chain. A resin film 5 made of a ladder resin is formed.

Inventors

  • 👤 Etsushi Adachi
  • 👤 悦志 足立
  • 👤 Hiroshi Adachi
  • 👤 廣士 足達
  • 👤 Shigeyuki Yamamoto
  • 👤 茂之 山本
  • 👤 Hiroyuki Nishimura
  • 👤 浩之 西村
  • 👤 Shintarou Minami
  • 👤 伸太朗 南
  • 👤 Susumu Tajima
  • 👤 享 田島
  • 👤 Hiroshi Tobimatsu
  • 👤 博 飛松

Bibliographic Details

Application Number —
Jurisdiction JP
Data Source google_patents
Last Synchronized 2026-10-30 10:16
CPC Classifications
G; G03; G03F; G03F7/00; G03F7/004; G03F7/075; G03F7/0757; H; H10; H10W; H10W74/00; H10W74/10; H10W74/131; H10W74/40; H10W74/47

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References Cited (Backward Citations)

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