Coaxial contact probe

Abstract

Abstract Translated from Japanese (57)【要約】 【目的】各種電子部品等が実装されたプリント配線板等 のインサーキット検査を行うための検査装置に使用され る同軸型コンタクトプローブに関し、中心導体及び外部 導体を、必要な検査ポイントに確実に接触させることが できる同軸型コンタクトプローブを提供することを目的 とする。 【構成】同軸型コンタクトプローブ１０は、中心導体１ ２と、外部導体１６と、これらの間に介在する絶縁体１ ４から成り、少なくとも一方の端部に、（イ）中心導体 １２に電気的に接続され、絶縁体１４から突出した第１ のコンタクトピン２０と、（ロ）外部導体１６に電気的 に接続され、絶縁体１４から突出した第２のコンタクト ピン３０を具備している。 (57) [Abstract] [Purpose] A coaxial type contact probe used for an in-circuit inspection device for in-circuit inspection of a printed wiring board on which various electronic components are mounted requires a center conductor and an outer conductor. An object of the present invention is to provide a coaxial contact probe that can surely contact an inspection point. [Structure] The coaxial contact probe 10 includes a central conductor 1. 2, the outer conductor 16 and the insulator 1 interposed therebetween. 4 which is electrically connected to the central conductor 12 and protrudes from the insulator 14 on at least one end. The contact pin 20 and the second contact pin 30 electrically connected to the (b) outer conductor 16 and protruding from the insulator 14 are provided.

Inventors

• 👤 Kiyoshi Arai
• 👤 清 新井

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