Large scale integrated circuit device

Abstract

Abstract Translated from Japanese (57)【要約】 【目的】 シリアルバス機能及びバウンダリスキャン機 能を内蔵するＬＳＩにおいて、これ等両機能内蔵に伴う 端子数の増加を最小限にする。 【構成】 バウンダリスキャンブロック２のテストモー ドセレクト端子ＴＭＳとシリアルバスブロック３のバス ビジー端子ＳＩＢとをピン６で共用する。ブロック２の テストデータ端子ＴＤＩとブロック３のシリアルデータ 端子ＳＩＤとをピン７で共用し、ブロック２のテストク ロック端子ＴＣＫとブロック３のクロック端子ＳＩＫと をピン８で共用する。 【効果】 バウンダリスキャンブロックに４個の端子， シリアルバスブロックに３個の端子が夫々必要なところ を、４個の端子の増加で両機能を内蔵できる。 (57) [Abstract] [Purpose] Minimize the increase in the number of pins that accompanies the built-in serial bus function and boundary scan function. [Structure] The test mode select terminal TMS of the boundary scan block 2 and the bus busy terminal SIB of the serial bus block 3 are shared by the pin 6. The test data terminal TDI of the block 2 and the serial data terminal SID of the block 3 are shared by the pin 7, and the test clock terminal TCK of the block 2 and the clock terminal SIK of the block 3 are shared by the pin 8. [Effect] 4 terminals on the boundary scan block, Where the serial bus block requires three terminals each, both functions can be incorporated by increasing the number of four terminals.

Inventors

• 👤 Masahiro Shoda
• 👤 政弘 正田

Bibliographic Details