Testing device for the double-sided stepwise contacting of equipped printed circuit boards

Abstract

Abstract Translated from German Für die beidseitige, zweistufige Kontaktierung bestückter Leiterplatten (Lp) sind ein unterer Nadeladapter (Nau) mit unterschiedlich langen, ersten und zweiten gefederten Kontakt­nadeln (Kn1, Kn2) und ein oberer Nadeladapter (Nao) mit unter­schiedlich langen, dritten und vierten gefederten Kontaktna­deln (Kn3, Kn4) vorgesehen. Bei sämtlichen Stufen der Kontak­tierung sind die Leiterplatten (Lp) fest zwischen unteren und oberen, prüflingsspezifisch angeordneten Andruckstößeln (Asu bzw. Aso) eingespannt, wodurch insbesondere eine hohe Kontak­tiersicherheit gewährleistet wird. For the two-sided, two-stage contacting of printed circuit boards (Lp) are a lower needle adapter (Nau) with differently long, first and second spring-loaded contact needles (Kn1, Kn2) and an upper needle adapter (Nao) with differently long, third and fourth spring-loaded contact needles (Kn3 , Kn4) provided. At all stages of contacting, the printed circuit boards (Lp) are firmly clamped between the lower and upper pressure rams (Asu or Aso), which are specific to the test specimen, thereby ensuring in particular a high level of contact security.

Inventors

• 👤 Wolfgang Hilz
• 👤 Rudolf Dipl.-Ing. Schuster
• 👤 Hans Schauflinger

Bibliographic Details