Method and device for the measurement and analysis of the physical parameters of a layered material using thermal radiometry

Abstract

Abstract Translated from French L'invention concerne un procédé et un dispositif d'analyse et de mesure des paramètres physiques d'un matériau (1) en couches (10,11), paramètres tels que l'absorptivité B, la diffusivité A de la couche superficielle, et la résistance thermique R de l'interface entre les deux couches par radiométrie. The invention relates to a method and a device for analyzing and measuring the physical parameters of a material (1) in layers (10, 11), parameters such as the absorptivity B, the diffusivity A of the surface layer, and the thermal resistance R of the interface between the two layers by radiometry. L'échantillon est excité au moyen d'un flux d'énergie thermique, modulé en amplitude à une fréquence haute Fh et à une fréquence basse Fb. Les paramètres sont calculés à partir des mesures de phase et d'amplitude du signal thermique. The sample is excited by means of a thermal energy flow, amplitude modulated at a high frequency Fh and at a low frequency Fb. The parameters are calculated from the phase and amplitude measurements of the thermal signal. Application au contrôle non destructif de produits industriels. Application to non-destructive testing of industrial products.

Inventors

• 👤 Michel Egee
• 👤 Robert Dartois
• 👤 Jean Marx
• 👤 Etienne Merienne
• 👤 Marcel Regalia
• 👤 Philippe Poplimont
• 👤 Etienne Van Schel

Bibliographic Details