Integrated circuit test clip

Abstract

Abstract Translated from French Cette invention concerne un système de connexion entre un circuit intégré, encapsulé dans un "micro-boîtier à connexions périmétriques" ou "MICOP" céramique, et les dispositifs de test dynamique (par exemple entre un microprocesseur et un analyseur logique). Ce système de connexion est une pince-test (10) qui se compose d'un corps isolant (11) comportant à sa périphérie un nombre de contacts-test (20) égal au nombre d'entrées-sorties du "MICOP" (5) installé ou non dans son connecteur (2). Des leviers d'accrochage (40) articulés sur le corps (11) permettent de verrouiller la pince-test (10). Enfin, un circuit imprimé (29) fixé sur le corps isolant (11) permet le câblage du câble de liaison sur la pince-test (10). This invention relates to a connection system between an integrated circuit, encapsulated in a ceramic "perimeter connection" or "MICOP" box, and dynamic test devices (for example between a microprocessor and a logic analyzer). This connection system is a test clamp (10) which consists of an insulating body (11) comprising at its periphery a number of test contacts (20) equal to the number of input-outputs of the "MICOP" (5 ) installed or not in its connector (2). Latching levers (40) articulated on the body (11) make it possible to lock the test clamp (10). Finally, a printed circuit (29) fixed on the insulating body (11) allows the wiring of the connecting cable on the test clamp (10).

Inventors

• 👤 Hervé Bricaud
• 👤 Jean-François Tossuto

Bibliographic Details