Device for determining the two-dimensial correlation of a specified field-related binary variable

Abstract

Abstract Translated from German Die Einrichtung ermöglicht die Ermittlung des zweidimensionalen Zusammenhangs-Profils einer vorgeschriebenen binären Variablen, welche einer Fläche zugeordnet ist. Für diese Ermittlung werden keine oder allenfalls geringe Rechnerzeiten benötigt. Die Einrichtung umfaßt eine durch Schalter-Zellen gebildeten Zusammenhangs-Matrix und eine durch Sensor-Zellen gebildete zweidimensionale Sensor-Anordnung. Die Sensor-Zellen erfassen die Anwesenheit oder Abwesenheit der binären Variablen und steuern die ihnen zugeordneten Schalter-Zellen der Zusammenhangs-Matrix. Diese Einrichtung kann beispielsweise für die Prüfung von Schaltungsplatten und für die Analyse von Fingerabdrücken eingesetzt werden, wobei es sich dann bei der binären Variablen um die Anwesenheit oder Abwesenheit einer Leiterbahn auf der Oberfläche der Schaltungsplatte oder um die Anwesenheit oder Abwesenheit einer Papillarlinie (20) auf der Oberfläche eines Fingers handelt. The device enables the determination of the two-dimensional relationship profile of a prescribed binary variable which is assigned to a surface. No or at most short computer times are required for this determination. The device comprises a connection matrix formed by switch cells and a two-dimensional sensor arrangement formed by sensor cells. The sensor cells detect the presence or absence of the binary variables and control the switch cells of the relationship matrix assigned to them. This device can be used, for example, for the testing of circuit boards and for the analysis of fingerprints, the binary variable then being the presence or absence of a conductor track on the surface of the circuit board or the presence or absence of a papillary line (20) the surface of a finger.

Inventors

• 👤 Constantine J. Tsikos

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