Arrangement for testing microcircuit components and method of carrying it out

Abstract

Abstract Translated from German Eine Anordnung für die elektrische Prüfung von Mikroverdrahtungen mit elektrischen Prüfkontakten (4) soll auch bei drastisch verringerten Abmessungen von elektrischen Leitbahnen und von Rastermaßen bei "Leiterplatten einsetzbar sein. Die elektrischen Prüfkontakte (4) sind über interne Schalter (2,3,33,S(X n Y m ),V,W) auswählbar. Die Prüfkontakte (4) können in einer Matrix angeordnet sein, deren Rastermaß dem Rastermaß einer zu prüfenden Leiterplatte entspricht. An arrangement for the electrical testing of microwiring with electrical test contacts (4) should also be usable with drastically reduced dimensions of electrical interconnects and grid dimensions for "printed circuit boards. The electrical test contacts (4) can be switched via internal switches (2,3,33, p (X n Y m ), V, W) The test contacts (4) can be arranged in a matrix, the pitch of which corresponds to the pitch of a circuit board to be tested.

Inventors

• 👤 Burkhard Prof. Dr. Lischke
• 👤 Jürgen Dr. Ing. Frosien
• 👤 Reinhold Dipl.-Ing. Schmitt

Bibliographic Details