Monolithic integrated semiconductor device

Abstract

Abstract Translated from German Es handelt sich bei der Erfindung um eine mit einem Adreßdekoder versehene integrierte Halbleiterschaltung, insbesondere um einen dynamischen RAM-Speicher. Erfindungsgemäß ist nun diese Halbleiterschaltung mit einem durch die Adreßeingänge beaufschlagbaren Testdekoder versehen, der alternativ zum Adreßdekoder aktiviert werden kann und der Aufgabe dient, aufgrund entsprechender Adressierungen Testvorgänge auf dem die Schaltung aufnehmenden Chip einzuleiten. Auf diese Weise läßt sich der sonst für Testungen erforderliche Aufwand an externen Anschlüssen des Chips erheblich reduzieren. Außerdem kann man mit Hilfe der Testdekodierung sowohl sequentiell Meßergebnisse verschiedener Testschaltungen an einem hierfür vorgesehenen Signalausgang abfragen als auch für Testzwecke modifizierte Funktionsabläufe gegenüber dem Normalbetrieb der integrierten Halbleiterschaltung betätigen. The invention is an integrated semiconductor circuit provided with an address decoder, in particular a dynamic RAM memory. According to the invention, this semiconductor circuit is now provided with a test decoder which can be acted upon by the address inputs and which can be activated as an alternative to the address decoder and which serves to initiate test processes on the chip receiving the circuit on the basis of appropriate addressing. In this way, the effort required for tests on external connections of the chip can be considerably reduced. In addition, test decoding can be used to sequentially query measurement results from various test circuits at a signal output provided for this purpose, and to activate functional sequences modified for test purposes compared to the normal operation of the integrated semiconductor circuit.

Inventors

• 👤 Ewald Dipl.-Phys. Michael

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