Method of marking semiconductor chips, and marked semiconductor chip

Abstract

Abstract Translated from German Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kennzeichnung von Halbleiterchips (1) bezüglich mindestens eines bestimmten Merkmals mittels optisch erkennbarer, auf einer Oberfläche der Halbleiterchips (1) angebrachter Markierungen (9, 10), bei dem die optisch erkennbaren Markierungen (9, 10) durch Veränderung der Oberfläche mindestens eines, zum Zwecke des Markierens vorgesehenen, aus einem homogenen und gut reflektierenden Material bestehenden Flächenteils (2) angebracht werden. The invention relates to a method for identifying semiconductor chips (1) with respect to at least one specific feature by means of optically recognizable markings (9, 10) provided on a surface of the semiconductor chips (1), in which the optically recognizable markings (9, 10) are changed the surface of at least one surface part (2) provided for the purpose of marking and consisting of a homogeneous and highly reflective material is attached.

Inventors

• 👤 Günter Dipl.-Ing. Schindlbeck

Bibliographic Details