Temperature measuring device utilising a quartz slice

Abstract

Abstract Translated from French Une sonde de température utilise une lame de quartz (L) taillée selon une coupe à double rotation définie par un angle φ compris entre 9°24' et 13°24' et un angle θ compris entre 57°24' et 61 °24'; la lame de quartz sert de substrat à la propagation d'une onde de surface dans une plan de coupe OX"Z" obtenu par double rotation d'un plan OXZ défini par un axe électrique (OX) et l'axe optique (OZ) du quartz, ladite propagation ayant lieu selon une direction qui fait un angle compris entre 33° et 37° avec l'axe OX" du plan de coupe OX"Z". A temperature probe uses a quartz blade (L) cut according to a double rotation cut defined by an angle φ between 9 ° 24 'and 13 ° 24' and an angle θ between 57 ° 24 'and 61 ° 24'; the quartz plate serves as a substrate for the propagation of a surface wave in an OX "Z" cutting plane obtained by double rotation of an OXZ plane defined by an electrical axis (OX) and the optical axis (OZ) quartz, said propagation taking place in a direction which makes an angle between 33 ° and 37 ° with the axis OX "of the section plane OX" Z ".

Inventors

• 👤 Jean-Jacques Gagnepain
• 👤 Daniel Hauden
• 👤 Roger Coquerel
• 👤 Claude Pegeot

Bibliographic Details