Probe for testing printed circuits, and testing device comprising such a probe

Abstract

Abstract Translated from French Palpeur pour dispositif de test de circuits imprimés nus et équipés de composants, dont la tête est usinée dans un élément de cylindre conducteur disposé à l'extrémité d'une tige coulissant dans un corps de piston et comporte une partie pyramidale centrale entourée à sa base par une couronne présentant des arêtes vives curvilignes. Les contacts avec les circuits imprimés nus ou équipés de composants se font par la partie pyramidale et/ou la couronne suivant les positions réciproques de la tête du palpeur et des trous métallisés, ou queues de connexion des composants ou points de soudure des circuits soumis au test. Application aux dispositifs de test des circuits imprimés. Probe for test device for bare printed circuits and equipped with components, the head of which is machined in a conductive cylinder element disposed at the end of a rod sliding in a piston body and has a central pyramidal part surrounded at its base by a crown with curvilinear sharp edges. Contacts with bare printed circuits or with components are made through the pyramidal part and / or the crown according to the reciprocal positions of the probe head and the metallized holes, or connection tails of the components or solder points of the circuits subjected to test. Application to test devices for printed circuits.

Inventors

• 👤 Michel Jamet
• 👤 Jean-Claude Urien
• 👤 Gérard Bureau

Bibliographic Details